不可以。T型和J型熱電偶具有不同的熱電壓特性,替換使用將會導(dǎo)致測量錯誤。U型和L型熱電偶只能用作老設(shè)備的替換件,并且隨著新廠房的建設(shè)成功,U型和L型熱電偶也會逐漸被淘汰。
大多數(shù)制造商提供的MI電纜,其壁厚相當(dāng)于外徑的10%。
用于電阻溫度計的礦物絕緣電纜包含一條或多條銅線,這些銅線嵌在高度壓實的氧化鎂中,并且使用由1.4571不銹鋼等材料制成的套管屏蔽。對于熱電偶,則使用適合的熱電偶的電纜。用于熱電偶的電纜的標(biāo)準護套材料為鉻鎳鐵合金2.4816。
IC(晶間腐蝕)是一種在適當(dāng)條件下發(fā)生在多數(shù)合金上的腐蝕形式,也稱為“晶粒解體”或“貧鉻”,通常沿著金屬晶粒間的分界面向內(nèi)部擴展。對于鉻鋼合金,材料中的鉻在受熱時(通常在焊接時)會與碳結(jié)合產(chǎn)生碳化鉻,從而使材料失去防腐蝕性能(形成鈍化層),這種現(xiàn)象高碳鋼材料上尤為常見。在耐腐蝕鋼材中,可通過以下方式抑制IC發(fā)生:1、將碳與鈦或鈮結(jié)合產(chǎn)生碳化鈮或碳化鈦(穩(wěn)定鋼),如1.4571
(AISI 316Ti);2、降低碳含量,如1.4404
(AISI 316L)。這兩種方法都能有效的金屬晶粒間的鉻含量減少。
熱電偶受老化影響使其溫度/熱電壓特性發(fā)生改變。
對于K型熱電偶,“Green
Rot”會使得NiCr引腳上出現(xiàn)貧鉻現(xiàn)象,造成熱電壓降低,因此在高溫條件下會導(dǎo)致熱電壓大幅改變。
缺氧會加速“Green
Rot”現(xiàn)象,因為熱電偶表面無法形成防止進一步氧化的完整氧化層。鉻被氧化時,鎳沒有被氧化,這就導(dǎo)致了所謂的“Green
Rot”?!癎reen
Rot”現(xiàn)象會損壞熱電偶。應(yīng)用于700°C以上環(huán)境中的NiCr-Ni熱電偶快速冷卻時,晶體結(jié)構(gòu)中的某些狀態(tài)(短程有序)會在冷卻過程中凍結(jié),這在K型熱電偶中會導(dǎo)致高達0.8mV的熱電壓變化(K效應(yīng))。
VDI/VDE 3511表2中建議的彎曲半徑R> 5 x D(D=MI電纜外徑),一些MI電纜制造商甚至將> 3
x D定為彎曲半徑。
該效應(yīng)以托馬斯?約翰?塞貝克的名字命名,是指在兩種不同導(dǎo)電材料構(gòu)成的閉合回路中,當(dāng)兩個接點溫度不同時,回路中產(chǎn)生的電勢使熱能轉(zhuǎn)變?yōu)殡娔艿囊环N現(xiàn)象。
為了避免內(nèi)部熱應(yīng)力損壞陶瓷熱電偶套管,安裝和拆卸應(yīng)緩慢逐步地進行。安裝時,必須先預(yù)熱或緩慢插入,如,在1600°C時速度插入速度應(yīng)為1-2cm/min,在1200°C時速度插入速度應(yīng)為10-20cm/min